機器一覧 | 微細構造解析分野 主要機器電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM/EDS）分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/STEM/EDS）マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS/EBSD）集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）--前処理装置--断面・平面イオンミリング（JEOL CP）断面・平面イオンミリング（GATAN）精密機械研磨装置（Leica EM-TXP）ウルトラミクロトーム低エネルギーイオンミリング装置（Gentle Mill）マニュピレーターレーザーマーカー