分析事例 | 微細構造解析分野

FE-SEMによる各種解析事例

ミクロトームを活用したHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）のSEM観察事例

鉄鋼材料の転位のSEM観察事例

粘着部の低真空SEM観察事例

防振ゴムの断面観察事例

市販トナーの断面観察事例

有機モノリス構造体の断面観察事例

イオンミリングを活用した共晶ハンダの断面SEM観察事例

ポリエチレンフィルム熱溶着界面の断面観察事例

リチウムイオン電池セパレータの観察事例

ポリエチレンのラメラのSEM観察事例

金めっき異常部の断面解析事例

イオンミリングを活用しためっき層のSEM観察事例

光学多層薄膜上の異常部の解析事例

めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析

HIPSの三次元解析事例

ワイヤボンディングの断面SEM観察事例

携帯電話ケース異常突起物の断面解析例

マイクロカンチレバーの作製・測定事例

FIB-マイクロサンプリング法によるTEM試料作製事例

金属ナノ粒子のTEM観察事例

複合ナノ粒子のTEM観察事例

表面改質金属の断面解析例

透明導電膜のTEM観察事例

MOCVD法で作製したβ-FeSi2薄膜の結晶粒観察事例

LSIコンタクトホールの２方向観察事例

LSIコンタクトホールのTEMマッピング事例

低エネルギーイオンミリングを用いた化合物半導体の高分解能観察例

FIB-SEMによる断面観察事例

電子染色を利用した中空糸の断面観察事例