マニュピレーター
ピックアップ用のマニュピレーター機能を有した顕微鏡装置です。
集束イオンビーム装置(FIB)で作製した透過電子顕微鏡(TEM)サンプルをTEM観察用の支持膜貼付きメッシュ上へ容易に乗せることが可能です。
集束イオンビーム装置(FIB)で作製した透過電子顕微鏡(TEM)サンプルをTEM観察用の支持膜貼付きメッシュ上へ容易に乗せることが可能です。
装置
マニュピレーター
ご利用を希望される方へ
※FIB‐リフトアウト法をご希望の場合は、別途、FIB料金が加算されます。試験計測料金
NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
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K1610 | マニピュレーターによるサンプリング | 1試料につき | 5,610 | 川崎技術支援部 |
K1620 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 | 1試料につき | 81,730 | 川崎技術支援部 |
K1621 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 条件追加 | 1条件追加につき | 29,260 | 川崎技術支援部 |
- この装置・試験等に関連するお問い合わせ
- 担当:川崎技術支援部