ミクロトームを活用したHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）のSEM観察事例

  • ミクロトームを活用することでHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）を広範囲で観察し、サブミクロン領域のモルフォロジー評価を行いました。

    ＜試料＞
    耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）
    ＜使用機器＞
    電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
    ウルトラミクロトーム
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    SEMでもサブミクロン領域のモルフォロジー評価が可能





    広視野での観察により、製品内部の微細構造解析が可能
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  • 担当：川崎技術支援部