市販トナーの断面観察事例

  • トナー粒子の内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。

    ＜試料＞
    トナー粒子
    ＜使用機器＞
    電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
    断面試料作製用イオンミリング装置
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    • 図1　市販トナーの断面SEM像
    • 図1　市販トナーの断面SEM像


    柔らかい材料の内部構造の観察も可能です。
  • この装置・試験等に関連するお問い合わせ
  • 担当：川崎技術支援部