HIPSの三次元解析事例

  • FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽出を行いました。

    ※FIB-SEMシリアルセクショニング法：イオンビームでエッチングした断面をSEMで撮影し、掘り進む毎に撮影を繰り返すことで三次元情報を構築していく手法。



    ＜試料＞
    耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）
    ＜使用機器＞
    集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）
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  • 担当：川崎技術支援部