複合ナノ粒子のTEM観察事例

酸化チタン微粒子に金を担持させた触媒の酸化チタンや金の分散状態、粒子径をTEM観察で明らかにしました。

＜使用機器＞
分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）

＜作業工程＞試料前処理（分散ふりかけ法）　　→　　TEM観察

＜納期＞
担当職員にお問い合わせください。

＜測定例＞

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ご利用を希望される方へ

今回のようなFE-TEM（分析透過電子顕微鏡）による複合ナノ粒子の観察を実施した場合は、下記料金表が適用されます。

試験計測料金

NO.	項目	単位	料金	担当部名
K1410	TEM試料調製　分散法　ふりかけ法	ふりかけ法　１試料につき	6,050	川崎技術支援部
K1440	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍以下	倍率　10万倍以下　１視野につき	17,710	川崎技術支援部
K1445	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍以下 １視野増	倍率　10万倍以下　１視野増すごとに	8,800	川崎技術支援部
K1441	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野につき	23,430	川崎技術支援部
K1446	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下 １視野増	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野増すごとに	13,310	川崎技術支援部
K1450	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）50万倍を超えて200万倍以下	倍率　 50万倍を超えて200万倍以下　１視野につき	32,340	川崎技術支援部
K1455	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）50万倍を超えて200万倍以下 １視野増	倍率　 50万倍を超えて200万倍以下　１視野増すごとに	17,710	川崎技術支援部
K1451	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの	倍率　200万倍を超えるもの　１視野につき	46,860	川崎技術支援部
K1456	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの １視野増	倍率　200万倍を超えるもの　１視野増すごとに	27,830	川崎技術支援部
K1460	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）試料傾斜調整	試料傾斜調整　１条件ごとに	12,210	川崎技術支援部

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。