表面改質金属の断面解析例

微粒子ピーニング処理により表面改質させた金属を断面方向から可視化することで、表面付近の内部構造を明らかにすることができます。

＜使用機器＞
分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）
集束イオンビーム装置（FIB）

＜作業工程＞
試料作製（FIB-マイクロサンプリング法）　　→　　TEM観察　　→　　TEM面分析

＜納期＞
担当職員にお問い合わせください。

分析事例（クリックで各分析事例に移動します）

• 微粒子ピーニング処理による材料開発
• 金属表面付近の断面STEM観察（全体）
• 金属表面付近の断面STEM観察（拡大）
• 金属表面付近の断面STEM分析

微粒子ピーニング処理による材料開発

• 輸送機関の燃費向上 → 軽量化
  鉄鋼材料から軽金属材料（アルミニウム合金）へ代替を期待
  　　↓
  【アルミニウム合金】
  　機械的性質に乏しく適用可能な部位が限られており、更なる特性向上が必要
  　　↓
  ナノ複合組織化
  　→ 高硬度を示す新たな材料を期待
  

• 【微粒子ピーニング処理】
  展伸材アルミニウム合金に直径数十μm程度の金属粒子を
  投射することで表面近傍に複合組織が形成される技術
  
  ●粒子の高速衝突により表面近傍が練り込まれる
  　→ 母相のアルミニウム結晶粒径が100nm以下に微細化
  
  ●数十nm～数μmサイズの一部の投射粒子が微細に分散
  　→ ナノ複合組織が形成
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金属表面付近の断面STEM観察（全体）

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金属表面付近の断面STEM観察（拡大）

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金属表面付近の断面STEM分析

• EDS-Mapping
  
  • 
  
  ●ニッケル→数十nmの分散有　●酸素→複合組織の粒界に存在　ナノレベルで元素分布を確認

ご利用を希望される方へ

表面改質金属の断面解析を実施した場合は、下記料金表が適用されます。
観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

試験計測料金

NO.	項目	単位	料金	担当部名
K1625	TEM試料調製　FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン	低加速ガリウムイオン仕上げ　１試料につき	111,980	川崎技術支援部
K1472	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）明視野像	明視野像　１視野につき	17,710	川崎技術支援部
K1473	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）暗視野像	暗視野像　１視野につき	32,230	川崎技術支援部
K1470	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）制限視野回折	制限視野回折　１視野につき	15,730	川崎技術支援部
K1530	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）　面分析	面分析　１視野５元素ごとに、 または２時間につき	104,170	川崎技術支援部