FIB-SEMによる断面観察事例

• FIBで加工した断面を、SEMで斜め上から観察します。
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分析事例（クリックで各分析事例に移動します）

• FIB-SEMによるコネクタ表面のめっきの断面観察
• FIB-SEMによる塗膜の断面観察および分析

FIB-SEMによるコネクタ表面のめっきの断面観察

• ＜試料＞
  市販のコネクタ端子
  
  FIB加工は無応力のため、Auめっき内のボイドも潰さずに観察することができます。
  金属、セラミックス、高分子材料において同様の観察を行うことができます。

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FIB-SEMによる塗膜の断面観察および分析

• ＜試料＞
  塗膜
  
  「FIB加工→断面のSEM観察→断面のEDS分析」を行うことにより、内部構造の観察と元素分析を行うことができます。

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