分析・評価機器（組成分析）
元素分析
- ICP発光分光分析装置（シーケンシャル型）
- 蛍光Ｘ線分析装置（エネルギー分散方式）
- 蛍光X線分析装置（波長分散方式）
- 原子吸光分光光度計
- CHN元素分析装置
- 全有機炭素および全窒素測定装置
- 炭素・硫黄分析装置
- 電子線マイクロアナライザ（ＦＥ−ＥＰＭＡ）
- 高分解能分析走査電子顕微鏡（FE-SEM/EDS）
- 電界放出型透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）
- 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）
- マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS/EBSD）
- 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF）
成分分析
page top組成分析
page top結晶構造解析
- 多目的X線回折装置
- 顕微レーザーラマン分光測定装置
- 電界放出型透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）
- 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）
- マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS/EBSD）
クロマトグラフ分析・質量分析
- イオンクロマトグラフ(IC-2001)
- ガスクロマトグラフ
- ガスクロマトグラフ質量分析計（GC/MS）
- ガスクロマトグラフ質量分析計
- ヘッドスペースガスクロマトグラフ
- ガスクロマトグラフ質量分析装置
- キャピラリーガスクロマトグラフ
- 高速液体クロマトグラフ－質量分析装置
- 飛行時間型質量分析装置
- LC/MS/MS（リチウムイオン電池電解液評価分析システム）