微小部X線光電子分光分析装置
本装置 は、試料にX線を照射し、試料表面から放出される光電子のエネルギーを測定することにより、表面の組成並びに化学結合状態に関する情報を得る装置です。
【用途・特徴】
ロボットの関節に使う摩擦摩耗特性に優れた摺動材、効率の良い燃料電池やリチウム電池電極、生体適合性の高い材料の開発を支援します。
プラスチック材料・セラミック材料・金属製品の表面の変色、腐食などの不具合を分析することにより、故障解析を行います。
・最小ビーム径: 10μm以下
・最高エネルギー分解能: 0.5eV以下 (Ag3d 5/2)
・最大感度: 1000000cps (Ag3d 5/2 の半値幅 1.0eVのとき)
・到達圧力: 6.7×10-8Pa以下
・オプション: 加熱冷却ステージ
【用途・特徴】
ロボットの関節に使う摩擦摩耗特性に優れた摺動材、効率の良い燃料電池やリチウム電池電極、生体適合性の高い材料の開発を支援します。
プラスチック材料・セラミック材料・金属製品の表面の変色、腐食などの不具合を分析することにより、故障解析を行います。
・最小ビーム径: 10μm以下
・最高エネルギー分解能: 0.5eV以下 (Ag3d 5/2)
・最大感度: 1000000cps (Ag3d 5/2 の半値幅 1.0eVのとき)
・到達圧力: 6.7×10-8Pa以下
・オプション: 加熱冷却ステージ
メーカー名
アルバック・ファイ株式会社型番
VersaProbeⅡご利用方法
試験計測(依頼試験)、技術開発受託(受託研究)で利用できます料金について
■ 試験計測(依頼試験)料金
微小部X線光電子分光分析
料金NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
---|---|---|---|---|
E1980 | 微小部X線光電子分光分析 (ワイドスキャンのみ) | 1試料1ヶ所につき | 14,410円 | 機械・材料技術部 |
E1982 | 微小部X線光電子分光分析 (ワイドおよびナロースキャン) | 1試料1ヶ所につき(6元素まで) | 21,450円 | 機械・材料技術部 |
E1984 | 微小部X線光電子分光分析(面分析,線分析) | 1試料1ヶ所につき(5元素まで) | 22,440円 | 機械・材料技術部 |
E1986 | 微小部X線光電子分光分析(深さ方向分析) | 1試料1ヶ所につき(6元素まで) | 33,770円 | 機械・材料技術部 |
E1990 | 微小部X線光電子分光分析 条件増 | 1条件増すごとに | 5,280円 | 機械・材料技術部 |
E1992 | 微小部X線光電子分光分析 元素増(1) | 1元素増すごとに(E1982,E1984に適用) | 4,510円 | 機械・材料技術部 |
E1994 | 微小部X線光電子分光分析 元素増(2) | 1元素増すごとに(E1986に適用) | 6,710円 | 機械・材料技術部 |
導入年度
平成25年度- この装置に関連するお問い合わせ
- 担当:機械・材料技術部 解析評価グループ
- その他の技術相談はこちらから