微小部蛍光X線分析装置(XRF)


- クリックで拡大します -

蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量(半定量)を得ることができる装置です。
金属,半導体,有機物及びセラミックスとあらゆる固体に対応でき、元素情報を得るための入り口的な装置として、中小企業から大企業の多種多様なニーズに対応できる装置です。

【用途・特徴】
♦ 大きい試料も非破壊で測定
♦ 微小からバルクまでの分析領域
♦ 広範囲の高速マッピング

メーカー名

SIIナノテクノロジー株式会社

型番

SEA6000VX HSFinder

仕様

X線源空冷式小型X線管球(Wターゲット)、コリメータ方式
X線照射向き上面照射
分析領域200μm,500μm,1.2mm,3mm,
分析元素Mg~U (Heパージ使用時 Na~U)
試料室580(W)×450(D)×150(H)mm
マッピング面積250×200mm

ご利用方法

試験計測(依頼試験)機器使用で利用できます

料金について

令和6年4月1日に試験計測等料金が改訂されました。新料金表示の対応が完了するまではPDFファイル(試験計測等料金表(1MB))をご確認ください。

■ 試験計測(依頼試験)料金

料金についてはお問い合わせください。

微小部蛍光X線分析(XRF)

料金NO.項目単位料金担当部名
K1210微小部蛍光X線分析(XRF)1試料1条件につき8,030円川崎技術支援部
K1211微小部蛍光X線分析(XRF) 条件追加1条件追加につき3,410円川崎技術支援部

微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析

料金NO.項目単位料金担当部名
K1212微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析面分析1条件につき(5元素まで)13,750円川崎技術支援部
K1213微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析 条件追加面分析1条件追加につき2,310円川崎技術支援部

■ 機器使用料金 (特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。)

料金NO.設備機器名メーカー・型式使用料担当部名
K2210微小部蛍光X線分析装置(XRF) SEA6000VX HSFinder (1時間あたり)SII社 SEA6000VX HSFinder5,500円川崎技術支援部

導入年度

平成22年度
  • この装置に関連するお問い合わせ
  • 担当:川崎技術支援部 材料解析グループ