XPSによる金めっき表面シミの分析事例

Auめっき上の極薄いシミの分析事例

XPSワイドスキャン分析により、極表面の薄いシミに、どのような元素が存在するかわかります。

観察例

 ・極薄いシミの分析ができます

使用機器

 ・X線光電子分光分析装置(XPS)
 ・アルバック・ファイ社  Quantera SXM

分析例

 ・金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析
 ・XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析
金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析

正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。

XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

ご利用を希望される方へ

このページのご紹介内容は、試験計測(依頼試験)でご利用いただけます。

今回のようなXPSワイドスキャン測定を実施した場合は、下記料金表が適用されます。詳細はお問い合わせください。

料金表(単位欄にメーカー・型式を表記している場合:機器使用料金(特に記載がない限り単位は1時間あたり))
料金NO.項目単位(又はメーカー・型式)料金
K5002X線光電子分光分析(XPS) 表面分析(ワイドスキャンのみ)1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)26,950円
K5005X線光電子分光分析(XPS) 表面分析(ワイドスキャンのみ 追加試料)追加1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)21,230円
  • この分析事例に関連するお問い合わせ
  • 担当:川崎技術支援部