複合ナノ粒子のTEM観察事例

酸化チタン微粒子に金を担持させた触媒の酸化チタンや金の分散状態、粒子径をTEM観察で明らかにしました。

＜使用機器＞
分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）

＜作業工程＞

試料前処理（分散ふりかけ法）　　→　　TEM観察

＜納期＞
担当職員にお問い合わせください。

このページのご紹介内容は、試験計測（依頼試験）でご利用いただけます。

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

料金表（単位欄にメーカー・型式を表記している場合：機器使用料金（特に記載がない限り単位は１時間あたり））

料金NO.	項目	単位（又はメーカー・型式）	料金
K1410	TEM試料調製　分散法　ふりかけ法	ふりかけ法　１試料につき	6,600円
K1441	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野につき	25,850円
K1451	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの	倍率　200万倍を超えるもの　１視野につき	51,590円
K1456	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの１視野増	倍率　200万倍を超えるもの　１視野増すごとに	29,590円