分析事例・研究成果

KISTECの分析事例や研究成果等を紹介しています。
KISTECでどのようなことができるか、具体的な分析事例等を通じてご確認いただけます。

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金属・セラミックス材料・評価技術

電気・電子技術

情報・金属加工・デザイン・設計

機器分析・光触媒・故障解析

金属・セラミックス材料・評価技術関連分野

分析事例・研究成果（タイトル）
トライボロジー多機能試験機によるしゅう動部材の摩擦特性評価	液相法による高活性光触媒の作製
コロイド技術によるサブミクロン周期構造の形成と特性の付与	“美工連携”による構造色顔料の開発
窒素ガス吸着法による酸化ケイ素粒子の比表面積測定	音響管計測による多孔質吸音材の音響特性評価
EPMA、SEM–EDXによるピーク位置が近接している元素で構成された材料の定性分析	EPMAによるスイッチ接点不具合品の面分析
X線光電子分光法（XPS）による銅材表面の化学状態解析	ねじの緩み評価試験
振動試験機を用いた溶接パイプの疲労特性評価	疲労試験による整形外科用インプラントの耐久性評価
X線ＣＴスキャン装置による電子基板、電子部品、機械部品等の内部観察、非破壊検査	Ｘ線透視装置による電子基板、電子部品、機械部品等の内部観察、非破壊検査
微小部X線応力測定装置による曲率を有する部品の残留応力測定	ホットプレスによるSiAlON粉末の焼結
画像解析およびラマン分光による海辺の砂の粒度分布測定	切削抵抗測定による材料の被削性評価

電気・電子技術関連分野

分析事例・研究成果（タイトル）
電磁界シミュレーションによる電磁環境（EMC）の解析・評価	冷熱衝撃試験機による機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験
ハイパワー恒温恒湿槽による機械装置、電気製品、電子部品、各種材料等の信頼性試験	高度加速寿命試験機によるプラスチック封止された電子部品などの耐湿性評価試験
in-plane X線回折法による薄膜・基板などの最表面のスペクトル測定	超音波映像装置による電子部品の内部空隙の観察
熱過渡解析によるパワーデバイスの放熱特性評価	レーザー顕微鏡によるラインパターンの線幅測定
磁化特性測定（VSM方式）によるNiFe薄膜のB-H特性測定結果	KEC法による電磁波シールド材のシールド効果測定
2焦点型扁平空洞法による電磁波シールド材のシールド効果測定	マルチポート・ベクトル・ネットワーク・アナライザによるツイスト・ペア・ケーブル（USB3.0）の伝送特性評価

情報・金属加工・デザイン・設計分野

分析事例・研究成果（タイトル）
5軸制御マシニングセンタによるテーブル・椅子(模型)の試作	CAD/CAEシステムによる真空タンクの構造解析
高速度カメラによる鋼の水焼入れの沸騰蒸気膜の観察	３Dプリンター(樹脂材料)による技術開発、製品開発、研究開発のための造形（試作）支援
材料試験機による木材・木製品の強度性能評価	デザイン支援による製品や商標等の事例
光造形方式３Dプリンターによる精度の報告	IoT技術による家具（椅子）の強度試験機の見える化
強度試験機による座面強度の報告	各種センサによる金属・樹脂材料の切削性能評価
スポット溶接による溶接部の評価技術	機械部品等の表面粗さ測定・表面形状測定
三次元座標測定機による機械部品等の精密測定	LMD方式の金属3Dプリンタを用いた技術開発
各種硬さ試験機の違いによる金属材料の硬さ試験	FEM（有限要素法）による塑性加工のシミュレーション解析

化学

分析事例・研究成果（タイトル）
ICP発光分光分析法によるRoHS指令に係る有害金属元素分析の分析事例	耐候性試験と動的粘弾性試験によるゴム材料の耐候性評価
ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析法によるシリコーン系材料の低分子環状シロキサンの定性定量分析	分光光度計による食品の機能性評価

機器分析・光触媒・故障解析関連

分析事例・研究成果（タイトル）
XPSによる金めっき表面シミの分析事例	ABS樹脂表面の液状付着物の分析
光触媒材料の空気浄化性能試験	光触媒材料のセルフクリーニング性能試験
紫外・可視分光光度計によるサングラスと保護めがねの透過率測定	紫外・可視分光光度計による携帯電話覗き防止フィルムの透過率測定
分光放射照度計による各種光源のスペクトル測定	分光放射照度計による殺菌灯のスペクトル測定
金属製品の素材確認	実体・金属顕微鏡による破面および金属組織観察
各種硬さ試験機による硬さ測定	FE-SEMによる金属破断面観察
FE-SEMによる備長炭の形態観察	空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験（JEM1467準拠）
三次喫煙対策のための内装材等への吸着成分分析・分解試験	特定悪臭物質22種をはじめ各種臭気成分の分解試験やGC/MS等による分解生成物の確認
模擬空気清浄機による実証型光触媒フィルタ性能評価等、想定使用条件に合わせた性能試験	FE-SEM（電界放出型電子顕微鏡）によるTiO₂ナノチューブの観察
LED殺菌灯として販売されている光源のスペクトル測定例	FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）による金属ナノ粒子の観察
FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）による複合ナノ粒子の観察	FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）による透明導電膜の解析
FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）によるLSI コンタクトホールの2方向観察	FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）によるLSIコンタクトホールの元素マッピング