分析事例・研究成果 KISTECで行っている分析事例や研究成果等を紹介しています。KISTECでどのようなことができるか、具体的な事例からご確認いただけます。 Search for:Search Button 金属・ｾﾗﾐｯｸｽ材料・評価技術機械・材料技術部 電気・電子技術電子技術部 情報･金属加工･ﾃﾞｻﾞｲﾝ･設計情報・生産技術部 化学化学技術部 機器分析・光触媒・故障解析川崎技術支援部 金属・セラミックス材料・評価技術関連分野 トライボロジー多機能試験機によるしゅう動部材の摩擦特性評価液相法による高活性光触媒の作製コロイド技術によるサブミクロン周期構造の形成と特性の付与“美工連携”による構造色顔料の開発窒素ガス吸着法による酸化ケイ素粒子の比表面積測定音響管計測による多孔質吸音材の音響特性評価EPMA、SEM–EDXによるピーク位置が近接している元素で構成された材料の定性分析EPMAによるスイッチ接点不具合品の面分析X線光電子分光法（XPS）による銅材表面の化学状態解析 ねじの緩み評価試験振動試験機を用いた溶接パイプの疲労特性評価疲労試験による整形外科用インプラントの耐久性評価X線ＣＴスキャン装置による電子基板、電子部品、機械部品等の内部観察、非破壊検査Ｘ線透視装置による電子基板、電子部品、機械部品等の内部観察、非破壊検査微小部X線応力測定装置による曲率を有する部品の残留応力測定ホットプレスによるSiAlON粉末の焼結画像解析およびラマン分光による海辺の砂の粒度分布測定切削抵抗測定による材料の被削性評価 電気・電子技術関連分野 電磁界シミュレーションによる電磁環境（EMC）の解析・評価冷熱衝撃試験機による機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験ハイパワー恒温恒湿槽による機械装置、電気製品、電子部品、各種材料等の信頼性試験高度加速寿命試験機によるプラスチック封止された電子部品などの耐湿性評価試験in-plane X線回折法による薄膜・基板などの最表面のスペクトル測定超音波映像装置による電子部品の内部空隙の観察 熱過渡解析によるパワーデバイスの放熱特性評価レーザー顕微鏡によるラインパターンの線幅測定磁化特性測定（VSM方式）によるNiFe薄膜のB-H特性測定結果KEC法による電磁波シールド材のシールド効果測定2焦点型扁平空洞法による電磁波シールド材のシールド効果測定マルチポート・ベクトル・ネットワーク・アナライザによるツイスト・ペア・ケーブル（USB3.0）の伝送特性評価 情報・金属加工・デザイン・設計分野 5軸制御マシニングセンタによるテーブル・椅子(模型)の試作CAD/CAEシステムによる真空タンクの構造解析高速度カメラによる鋼の水焼入れの沸騰蒸気膜の観察３Dプリンター(樹脂材料)による技術開発、製品開発、研究開発のための造形（試作）支援材料試験機による木材・木製品の強度性能評価デザイン支援による製品や商標等の事例光造形方式３Dプリンターによる精度の報告IoT技術による家具（椅子）の強度試験機の見える化 強度試験機による座面強度の報告各種センサによる金属・樹脂材料の切削性能評価スポット溶接による溶接部の評価技術機械部品等の表面粗さ測定・表面形状測定三次元座標測定機による機械部品等の精密測定LMD方式の金属3Dプリンタを用いた技術開発各種硬さ試験機の違いによる金属材料の硬さ試験FEM（有限要素法）による塑性加工のシミュレーション解析 化学分野 ICP発光分光分析法によるRoHS指令に係る有害金属元素分析の分析事例ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析法によるシリコーン系材料の低分子環状シロキサンの定性定量分析 耐候性試験と動的粘弾性試験によるゴムの劣化評価分光光度計による食品の機能性評価 機器分析・光触媒・故障解析関連 XPSによる金めっき表面シミの分析事例光触媒材料の空気浄化性能試験 サングラスと保護めがねの透過率測定各種光源のスペクトル測定金属製品の素材確認各種硬さ試験機による硬さ測定FE-SEMによる備長炭の形態観察三次喫煙対策のための内装材等への吸着成分分析・分解試験 模擬空気清浄機による実証型光触媒フィルタ性能評価等、想定使用条件に合わせた性能試験 LED殺菌灯として販売されている光源のスペクトル測定例複合ナノ粒子のTEM観察事例LSIコンタクトホールの２方向観察事例 ABS樹脂表面の液状付着物の分析光触媒材料のセルフクリーニング性能試験 自動角度可変機構を使用した携帯電話覗き防止フィルムの透過率測定殺菌灯のスペクトル測定実体・金属顕微鏡による破面および金属組織観察FE-SEMによる金属破断面観察空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験（JEM1467準拠） 特定悪臭物質22種をはじめ各種臭気成分の分解試験やGC/MS等による分解生成物の確認 FE-SEMによるTiO2ナノチューブの形態観察金属ナノ粒子のTEM観察事例透明導電膜のTEM観察事例LSIコンタクトホールのTEMマッピング事例