XPSによる金めっき表面シミの分析事例

■観察例
　　　•　極薄いシミの分析ができます
■使用機器
　　　Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ）
　　　アルバック・ファイ社　Quantera SXM

■分析例
　　•　金（Au）メッキ表面の極薄いシミの分析
　　•　XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。

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• 画像1　金（Au）メッキ表面の極薄いシミの分析

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• 画像2　XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。シミ部分ではシリコンが検出されました。

同様の事例については、 試験計測（依頼試験） でご利用いただけます。

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