XPSによる金めっき表面シミの分析事例

Auめっき上の極薄いシミの分析事例

XPSワイドスキャン分析により、極表面の薄いシミに、どのような元素が存在するかわかります。

観察例

　・極薄いシミの分析ができます

使用機器

　・Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ）
　・アルバック・ファイ社　　Quantera SXM

分析例

　・金（Au）メッキ表面の極薄いシミの分析
　・XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

金（Au）メッキ表面の極薄いシミの分析
金（Au）メッキ表面の極薄いシミの分析

正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。

XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

ご利用を希望される方へ

このページのご紹介内容は、試験計測（依頼試験）でご利用いただけます。

今回のようなXPSワイドスキャン測定を実施した場合は、下記料金表が適用されます。詳細はお問い合わせください。

試験計測料金

料金NO.項目単位料金
K5002Ｘ線光電子分光分析（XPS）　表面分析（ワイドスキャンのみ）１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）26,950円
K5005Ｘ線光電子分光分析（XPS）　表面分析（ワイドスキャンのみ　追加試料）追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）21,230円

  • 材料　金属、電子材料｜技術分野　不具合｜分析・試験・評価法　表面状態

  • この分析事例に関連するお問い合わせ
  • 担当：川崎技術支援部