XPSによる金めっき表面シミの分析事例
Auめっき上の極薄いシミの分析事例
■観察例
• 極薄いシミの分析ができます
■使用機器
X線光電子分光分析装置(XPS)
アルバック・ファイ社 Quantera SXM
■分析例
• 金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析
• XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。
正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。シミ部分ではシリコンが検出されました。
• 金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析
• XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。
- 画像1 金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析
- 画像2 XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。シミ部分ではシリコンが検出されました。
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