XPSによる金めっき表面シミの分析事例

Auめっき上の極薄いシミの分析事例

■観察例
   • 極薄いシミの分析ができます
■使用機器
   X線光電子分光分析装置(XPS)
   アルバック・ファイ社 Quantera SXM

■分析例
  • 金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析
  • XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。
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  • 画像1 金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析
  • 画像1 金(Au)メッキ表面の極薄いシミの分析

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  • 画像2 XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
  • 画像2 XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。シミ部分ではシリコンが検出されました。

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