「試験計測等料金表」令和４年１月１日改定のお知らせ
「試験計測等料金表」が令和４年１月１日から改定されます。
また以下のとおり、試験項目が追加・名称等変更・削除されます。
● 新規に追加される試験項目は以下のとおりです。
試験計測料金
| No. | 項 目 | 単 位 | 料 金 | 担当部名 |
| E0225 | 三次元座標測定（接触式測定） | １時間当たり | 15,360 | 情報・生産技術部 |
| E0245 | 表面粗さ測定 | １試料１ヶ所につき | 1,320 | 情報・生産技術部 |
| E0255 |
表面形状測定 |
１試料１ヶ所につき | 1,650 | 情報・生産技術部 |
| E0260 | 形状評価 | １寸法につき | 220 | 情報・生産技術部 |
| E0461 | 制御雰囲気炉処理 | １時間当たり | 4,180 | 機械・材料技術部 |
| E0462 | 脱脂炉処理 | １時間当たり | 1,540 | 機械・材料技術部 |
| E0463 | 卓上型電気炉処理 | １時間当たり | 1,760 | 機械・材料技術部 |
| E0471 | ＣＩＰ処理 | １時間増すごとに | 5,720 | 機械・材料技術部 |
| E2570 | 電子線マイクロアナライザ観測（ＦＥ－ＥＰＭＡ） | １ヶ所につき | 28,710 | 機械・材料技術部 |
| E2580 | 表面観察（ＦＥ－ＥＰＭＡによる） | １ヶ所につき | 19,800 | 機械・材料技術部 |
| E2581 | エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（ＦＥ－ＥＰＭＡによる） | １ヶ所につき（E2570,E2580に適用） | 6,710 | 機械・材料技術部 |
| E2582 | 表面観察（ＦＥ－ＥＰＭＡによる）１ヶ所増 |
同一試料で１ヶ所増すごとに （E2570,E2580に適用） |
4,400 | 機械・材料技術部 |
| E2590 | 電子線マイクロアナライザ観測（ＦＥ－ＥＰＭＡ）追加分析 | １ヶ所につき（E2570,E2580に適用） | 8,910 | 機械・材料技術部 |
| E2011 | 分光光度計による透過率または拡散反射率測定（紫外・可視のみ） | １試料１スペクトルにつき | 5,390 | 機械・材料技術部 |
| E2012 | 分光光度計による透過率または拡散反射率測定（紫外・可視・近赤外） | １試料１スペクトルにつき | 5,940 | 機械・材料技術部 |
| E2013 | 分光光度計による正反射率測定（紫外・可視・近赤外） | 偏光子なしまたは偏光１成分の１試料１スペクトルにつき | 6,270 | 機械・材料技術部 |
| E2014 | 分光光度計による正反射率測定（紫外・可視・近赤外）追加（１） | 同一試料・同一条件で偏光１成分追加につき | 3,520 | 機械・材料技術部 |
| E2015 | 分光光度計による正反射率測定（紫外・可視・近赤外）追加（２） | 同一試料・同一条件・同一偏光成分で１角度追加につき | 1,980 | 機械・材料技術部 |
| E2016 | 分光光度計による透過率または反射率測定（特殊なもの） | １試料１スペクトルにつき | 8,910 | 機械・材料技術部 |
| E2017 | 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 | １スペクトル１解析につき | 440 | 機械・材料技術部 |
機器使用料金
| No. | 項 目 | 単 位 | 料 金 | 担当部名 |
| E7830 | 表面形状測定装置 | １時間当たり | 1,980 | 情報・生産技術部 |
● 名称等変更される試験項目は以下のとおりです。
試験計測料金
| No. | 項 目 | 単 位 | 料 金 | 担当部名 |
|
E0021 |
エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（E0011～E0018に適用） | １ヶ所につき | 6,710 | 機械・材料技術部 |
| E0022 | イオンミリング法による試料調製（１）（標準的なもの） |
１試料１ヶ所につき |
44,330 | 機械・材料技術部 |
| E0023 | イオンミリング法による試料調製（２）（複雑なもの） |
１試料１ヶ所につき |
66,110 | 機械・材料技術部 |
| E0230 | 三次元座標測定（光学式測定） | １時間当たり | 7,700 | 情報・生産技術部 |
| E0490 | 立形マシニングセンタによる加工 | １時間当たり | 6,050 | 情報・生産技術部 |
機器使用料金
| No. | 項 目 | 単 位 | 料 金 | 担当部名 |
| E6380 | 立形マシニングセンタ | １時間当たり | 3,080 | 情報・生産技術部 |
● 削除される試験項目は以下のとおりです。
試験計測料金
| No. | 項 目 | 単 位 | 料 金 | 担当部名 |
| E0220 | 三次元座標測定（接触式） | １時間当たり | 15,290 | 情報・生産技術部 |
| E0240 | 表面粗さ測定（Ａ）（簡単な形状） | １試料１ヶ所につき | 1,210 | 情報・生産技術部 |
| E0250 | 表面粗さ測定（Ｂ）（複雑な形状） | １試料１ヶ所につき | 2,750 | 情報・生産技術部 |
| E2541 | 電子線マイクロアナライザ観測 | １試料につき | 27,830 | 機械・材料技術部 |
| E2542 | 写真撮影 （二次電子像、反射電子像） | １試料につき | 23,650 | 機械・材料技術部 |
| E2543 | 写真撮影 （二次電子像、反射電子像） １ヶ所増 | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 5,500 | 機械・材料技術部 |
| E2550 | 電子線マイクロアナライザ観測 追加分析 |
同一箇所での測定につき （E2541に適用） |
8,580 | 機械・材料技術部 |
| E2551 | 電子線マイクロアナライザ観測 １成分増 | １成分増すごとに | 2,860 | 機械・材料技術部 |
| E2560 | 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 | １試料につき | 61,160 | 機械・材料技術部 |
| E2010 | 紫外・可視分光光度計試験分析 | １スペクトルにつき | 7,920 | 機械・材料技術部 |
機器使用料金
| No. | 項 目 | 単 位 | 料 金 | 担当部名 |
| E7760 | マイクロ波加熱装置 | １時間当たり | 220 | 情報・生産技術部 |
| E7820 | 精密表面形状測定装置 | １時間当たり | 1,540 | 情報・生産技術部 |
詳細は担当部にお問い合わせください。