〔利用上の注意〕
１ 料金は全て消費税を含んでいます。
２ この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。
詳細は担当各部へお問い合わせください。
３ 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合があります。
４ 担当部名欄のＥ及びＫの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を示しています。
Ｅ 海老名本部、Ｋ 溝の口支所
試験計測等料金表（ＰＤＦ版）はこちら
試験計測（依頼試験）及び機器使用における料金の減免について
溝の口支所の試験計測料金
（１） 材料解析分野
① 機器分析 走査型X線光電子分光分析装置（μ-XPS・μ-ESCA） | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K5002 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） 表面分析（ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 26,950円 | 川崎技術支援部 |
| K5005 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） 表面分析（ワイドスキャンのみ 追加試料） | 追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 21,230円 | 川崎技術支援部 |
| K5007 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） 表面分析（ワイドスキャンのみ 条件増） | １条件増すごとに（ワイドスキャンのみ） | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K5011 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） 表面分析（ワイドおよびナロースキャン） | １試料１条件につき（ワイドおよびナロースキャン） | 48,290円 | 川崎技術支援部 |
| K5012 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） 表面分析（ワイドおよびナロースキャン 条件増） | １条件増すごとに（面分析、状態分析加算等） | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K5010 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） 深さ方向分析 | １試料１条件につき（主成分のみ、深さ0.2μmまで） | 83,600円 | 川崎技術支援部 |
| K5015 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） 深さ方向分析 条件増 | １条件増すごとに | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
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② 機器分析 フーリエ変換赤外分光光度計 （FT-IR） | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K5050 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） 簡易な測定 | １試料１条件につき | 10,230円 | 川崎技術支援部 |
| K5055 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） | １試料１条件につき | 19,800円 | 川崎技術支援部
E2021 |
| K5056 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） 条件追加 | １条件追加につき | 10,230円 | 川崎技術支援部 |
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③ 機器分析 微小蛍光Ｘ線分析装置（XRF） | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1210 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） | １試料１条件につき | 8,030円 | 川崎技術支援部 |
| K1211 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 条件追加 | １条件追加につき | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
| K1212 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 | 面分析１条件につき（５元素まで） | 13,750円 | 川崎技術支援部 |
| K1213 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 条件追加 | 面分析１条件追加につき | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
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④ 機器分析 金属顕微鏡 | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K5110 | 金属組織写真撮影 | 写真１枚につき | 10,560円 | 川崎技術支援部
E0031 |
| K5112 | 外観写真撮影 | 写真１枚につき | 5,280円 | 川崎技術支援部
|
| K5114 | 写真撮影１ヶ所増すごとに | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,970円 | 川崎技術支援部
E0070 |
| K5120 | 顕微鏡試料調製（第１種）：容易なもの | １試料につき | 1,870円 | 川崎技術支援部
E0080 |
| K5121 | 顕微鏡試料調製（第２種）：標準的なもの | １試料につき | 3,740円 | 川崎技術支援部
E0090 |
| K5122 | 顕微鏡試料調製（第３種）：比較的複雑なもの | １試料につき | 7,260円 | 川崎技術支援部
E0091 |
| K5123 | 顕微鏡試料調製（第４種）：非常に複雑なもの | １試料につき | 10,780円 | 川崎技術支援部
E0092 |
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⑤ 機器分析 デジタルマイクロスコープ | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1910 | デジタルマイクロスコープ | 画像１枚につき | 4,510円 | 川崎技術支援部 |
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⑥ 機器分析 マイクロフォーカスX線検査装置（μF-X線） | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1720 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 | 30分以内 | 6,930円 | 川崎技術支援部 |
| K1725 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 追加 | 追加15分あたり | 2,970円 | 川崎技術支援部 |
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⑦ 機器分析 硬さ試験機 | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K5330 | 硬さ試験 | １点につき | 990円 | 川崎技術支援部
E0180 |
| K5340 | 硬さ試験試料調整（第１種）：容易なもの | １試料につき | 1,870円 | 川崎技術支援部 |
| K5341 | 硬さ試験試料調整（第２種）：比較的容易なもの | １試料につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
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⑧ 温湿度環境試験 | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K5410 | 恒温恒湿槽（中） | 24時間まで | 21,450円 | 川崎技術支援部 |
| K5411 | 恒温恒湿槽（中） 24時間増 | 24時間増すごとに | 8,250円 | 川崎技術支援部 |
| K5420 | 恒温恒湿槽（小） | 24時間まで | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
| K5421 | 恒温恒湿槽（小） 24時間増 | 24時間増すごとに | 6,380円 | 川崎技術支援部 |
| K5430 | 恒温槽 | 24時間まで | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
| K5431 | 恒温槽 24時間増 | 24時間増すごとに | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K5440 | プレッシャークッカー試験 | 24時間まで | 19,800円 | 川崎技術支援部
E1320 |
| K5441 | プレッシャークッカー試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 12,320円 | 川崎技術支援部
E1330 |
| K5450 | 冷熱衝撃試験 （小） | ８時間まで | 10,560円 | 川崎技術支援部 |
| K5451 | 冷熱衝撃試験 （小） ８時間増 | ８時間増すごとに | 5,280円 | 川崎技術支援部 |
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⑨ 電気計測試験 | 材料解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K5610 | 絶縁抵抗測定（平板試料） | １試料につき | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
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（２） 微細構造解析分野
① 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM／EDS） | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1010 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） ５万倍以下 | 観察倍率５万倍以下 １条件につき | 20,460円 | 川崎技術支援部 |
| K1015 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） ５万倍以下 条件追加 | 観察倍率５万倍以下 １条件追加につき | 4,510円 | 川崎技術支援部 |
| K1020 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） ５万倍を超えて10万倍以下 | 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件につき | 29,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1025 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） ５万倍を超えて10万倍以下 条件追加 | 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件追加につき | 9,130円 | 川崎技術支援部 |
| K1030 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） 10万倍を超えるもの | 観察倍率10万倍を超えるもの １条件につき | 52,250円 | 川崎技術支援部 |
| K1035 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） 10万倍を超えるもの 条件追加 | 観察倍率10万倍を超えるもの １条件追加につき | 14,740円 | 川崎技術支援部 |
| K1050 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） SEM観察 10～15視野 | １試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 113,300円 | 川崎技術支援部 |
| K1052 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） SEM観察 16～30視野 | １試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 169,950円 | 川崎技術支援部 |
| K1055 | 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） SEM観察 条件追加 | １条件追加につき | 11,440円 | 川崎技術支援部 |
| K1040 | FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） | １条件につき | 14,850円 | 川崎技術支援部 |
| K1041 | FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 条件追加 | １条件追加につき | 4,510円 | 川崎技術支援部 |
| K1042 | FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 面分析 | 面分析１条件につき | 16,060円 | 川崎技術支援部 |
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② 高分解能分析走査電子顕微鏡（FE-SEM／EDS） | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1310 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 ５万倍以下 | 観察倍率５万倍以下 １試料１視野観察につき | 20,350円 | 川崎技術支援部
E0011 |
| K1315 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 ５万倍以下１視野追加 | 観察倍率５万倍以下 同一試料において１視野追加観察につき | 4,510円 | 川崎技術支援部
E0012 |
| K1320 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 ５万倍を超えて10万倍以下 | 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １試料１視野観察につき | 29,260円 | 川崎技術支援部
E0013 |
| K1325 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 ５万倍を超えて10万倍以下 １視野追加 | 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 同一試料において１視野追加観察につき | 8,910円 | 川崎技術支援部
E0014 |
| K1330 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 10万倍を超えるもの | 観察倍率10万倍を超えるもの １試料１視野観察につき | 52,030円 | 川崎技術支援部
E0015 |
| K1335 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 10万倍を超えるもの １視野追加 | 観察倍率10万倍を超えるもの 同一試料において１視野追加観察につき | 14,630円 | 川崎技術支援部
E0016 |
| K1392 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 10～15視野 | １試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 113,080円 | 川崎技術支援部
E0017 |
| K1395 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 16～30視野 | １試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 169,620円 | 川崎技術支援部
E0018 |
| K1342 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 低真空モード | 低真空モードの使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1343 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 STEM | 透過像観察機能（STEM）の使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1340 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 １条件追加 | １条件追加につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1345 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 （FE-SEM/EDS） SEM観察 Arクリーナー | Arクリーナーの使用10分につき | 2,200円 | 川崎技術支援部 |
| K1350 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 点分析 | 点分析１視野１箇所につき | 16,830円 | 川崎技術支援部 |
| K1351 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 点分析追加 | 点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,500円 | 川崎技術支援部 |
| K1352 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 線分析 | 線分析１視野１箇所につき | 22,550円 | 川崎技術支援部 |
| K1353 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 線分析追加 | 線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1354 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 面分析 | 面分析１視野につき | 33,880円 | 川崎技術支援部 |
| K1356 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS） 各種データ処理 | 各種データ処理１条件につき | 5,500円 | 川崎技術支援部 |
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③ 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS） | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1440 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍以下 | 倍率 10万倍以下 １視野につき | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1445 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍以下 １視野増 | 倍率 10万倍以下 １視野増すごとに | 8,800円 | 川崎技術支援部 |
| K1441 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下 | 倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野につき | 23,540円 | 川崎技術支援部 |
| K1446 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下 １視野増 | 倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野増すごとに | 13,310円 | 川崎技術支援部 |
| K1450 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）50万倍を超えて200万倍以下 | 倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野につき | 32,340円 | 川崎技術支援部 |
| K1455 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）50万倍を超えて200万倍以下 １視野増 | 倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野増すごとに | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1451 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの | 倍率 200万倍を超えるもの １視野につき | 46,970円 | 川崎技術支援部 |
| K1456 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの １視野増 | 倍率 200万倍を超えるもの １視野増すごとに | 27,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1460 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）試料傾斜調整 | 試料傾斜調整 １条件ごとに | 12,210円 | 川崎技術支援部 |
| K1470 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）制限視野回折 | 制限視野回折 １視野につき | 15,730円 | 川崎技術支援部 |
| K1471 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）微小領域回折 | 微小領域回折 １視野につき | 27,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1472 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）明視野像 | 明視野像 １視野につき | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1473 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）暗視野像 | 暗視野像 １視野につき | 32,340円 | 川崎技術支援部 |
| K1510 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS） 点分析 | 点分析 １試料１測定点につき | 26,730円 | 川崎技術支援部 |
| K1515 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS） 点分析追加 | 点分析 同一試料において１測定点追加につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K1540 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS） 定量分析 | 定量分析 １試料１測定点につき | 22,770円 | 川崎技術支援部 |
| K1545 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS） 定量分析追加 | 定量分析 同一試料において１測定点追加につき | 6,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1520 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS） 線分析 | 線分析 １測定５元素までごとに | 67,100円 | 川崎技術支援部 |
| K1530 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS） 面分析 | 面分析 １視野５元素ごとに、 または２時間につき | 104,390円 | 川崎技術支援部 |
| K1550 | TEM データ処理 | 各種データ処理 １条件につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
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④ 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS） | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1740 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 10万倍以下 | 観察倍率10万倍以下 １視野につき | 18,700円 | 川崎技術支援部 |
| K1741 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 10万倍以下 １視野追加 | 観察倍率10万倍以下 同条件１視野追加につき | 9,460円 | 川崎技術支援部 |
| K1745 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 10万倍を超えて50万倍以下 | 観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 １視野につき | 24,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1746 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 10万倍を超えて50万倍以下 １視野追加 | 観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 同条件１視野追加につき | 14,080円 | 川崎技術支援部 |
| K1750 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 50万倍を超えて200万倍以下 | 観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 １視野につき | 33,770円 | 川崎技術支援部 |
| K1751 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 50万倍を超えて200万倍以下 １視野追加 | 観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 同条件１視野追加につき | 18,700円 | 川崎技術支援部 |
| K1755 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 200万倍を超えるもの | 観察倍率200万倍を超えるもの １視野につき | 48,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1756 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 200万倍を超えるもの １視野追加 | 観察倍率200万倍を超えるもの 同条件１視野追加につき | 29,260円 | 川崎技術支援部 |
| K1760 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察 試料傾斜調整 | 試料傾斜調整 １条件につき | 12,540円 | 川崎技術支援部 |
| K1761 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM） 観察 制限視野回折 | 制限視野回折 １視野につき | 16,280円 | 川崎技術支援部 |
| K1768 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM） 観察 条件追加 | １条件追加につき | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
| K1770 | FE-TEM エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）面分析 | 面分析 １視野５元素ごとに、または２時間につき | 103,510円 | 川崎技術支援部 |
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⑤ TEM試料調製 | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1410 | TEM試料調製 分散法 ふりかけ法 | ふりかけ法 １試料につき | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
| K1411 | TEM試料調製 分散法 懸濁法 | 懸濁法 １試料につき | 11,990円 | 川崎技術支援部 |
| K1415 | TEM試料調製 電解研磨法 | １試料につき | 27,390円 | 川崎技術支援部 |
| K1420 | TEM試料調製 イオンミリング法 易 | １試料につき | 100,870円 | 川崎技術支援部 |
| K1421 | TEM試料調製 イオンミリング法 中 | １試料につき | 201,740円 | 川崎技術支援部 |
| K1422 | TEM試料調製 イオンミリング法 難 | １試料につき | 297,000円 | 川崎技術支援部 |
| K1425 | TEM試料調製 低エネルギーイオンミリング （ジェントルミル） | １試料１条件につき | 13,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1432 | TEM試料調製 電子染色 | １試料につき | 27,830円 | 川崎技術支援部 |
| K1433 | TEM試料調製 樹脂包埋 | １試料につき | 13,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1620 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 | １試料につき | 81,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1621 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 条件追加 | １条件追加につき | 29,260円 | 川崎技術支援部 |
| K1625 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン | 低加速ガリウムイオン仕上げ １試料につき | 112,090円 | 川崎技術支援部 |
| K1663 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン 試料作製のみ | 低加速ガリウムイオン仕上げ １試料につき（試料作製のみ） | 129,800円 | 川崎技術支援部 |
| K1626 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン条件追加 | 低加速ガリウムイオン仕上げ １条件追加につき | 29,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1627 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング | アルゴンイオンミリング仕上げ １試料につき | 125,950円 | 川崎技術支援部 |
| K1666 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング 試料作製のみ | アルゴンイオンミリング仕上げ １試料につき（試料作製のみ） | 143,770円 | 川崎技術支援部 |
| K1628 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング条件追加 | アルゴンイオンミリング仕上げ １条件追加につき | 29,590円 | 川崎技術支援部 |
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⑥ 集束イオンビーム装置（FIB） | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1640 | 集束イオンビーム装置（FIB） | １時間以内 | 33,660円 | 川崎技術支援部 |
| K1641 | 集束イオンビーム装置（FIB） 追加 | 追加１時間あたり | 28,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1642 | 集束イオンビーム装置（FIB） （連続自動加工） | 追加１時間あたり（ただし、設定可能なものに限る） | 16,610円 | 川崎技術支援部 |
| K1650 | FIBオプション カーボン膜デポジション | 10分あたり | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1651 | FIBオプション タングステン膜デポジション | 10分あたり | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1660 | FIBオプション マイクロプロービングシステム | １時間あたり | 18,150円 | 川崎技術支援部 |
| K1670 | FIBオプション アルゴンイオンミリング | 30分あたり | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
| K1680 | FIB付属のSEM | １試料１視野観察につき | 20,460円 | 川崎技術支援部 |
| K1681 | FIB付属のSEM 視野追加 | 同一試料において１視野追加観察につき | 4,620円 | 川崎技術支援部 |
| K1682 | FIB付属のSEM 条件追加 | 同一試料において１条件追加につき | 4,620円 | 川崎技術支援部 |
| K1690 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 | 点分析１視野１箇所につき | 17,050円 | 川崎技術支援部 |
| K1691 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 | 点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K1694 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 | 線分析１視野１箇所につき | 22,550円 | 川崎技術支援部 |
| K1695 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 | 線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,800円 | 川崎技術支援部 |
| K1692 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 | 面分析１視野につき | 33,880円 | 川崎技術支援部 |
| K1696 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 | 各種データ処理１条件につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K1672 | FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 | １測定につき | 110,990円 | 川崎技術支援部 |
| K1674 | FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 | １条件追加につき | 11,000円 | 川崎技術支援部 |
| K1730 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 標準 | 標準的な作製（SEM観察含む）５本につき | 178,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1732 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 複雑 | 複雑な作製（SEM観察含む） ５本につき | 267,300円 | 川崎技術支援部 |
| K1735 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 条件追加 | １条件追加につき | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
| K1610 | マニピュレーターによるサンプリング | １試料につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K1630 | レーザーマーキング | 15分以内 | 4,950円 | 川崎技術支援部 |
| K1635 | レーザーマーキング 追加 | 追加15分あたり | 4,070円 | 川崎技術支援部 |
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⑦ マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB） | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1940 | マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB） | １時間以内 | 33,330円 | 川崎技術支援部 |
| K1941 | マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB） 追加 | 追加１時間あたり | 28,820円 | 川崎技術支援部 |
| K1942 | マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB）（連続自動加工） | 追加１時間あたり （ただし、設定可能なものに限る） | 16,500円 | 川崎技術支援部 |
| K1950 | マルチ解析用FIBオプション カーボン膜デポジション | 10分あたり | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
| K1951 | マルチ解析用FIBオプション プラチナ膜デポジション | 10分あたり | 2,200円 | 川崎技術支援部 |
| K1955 | マルチ解析用FIBオプション Easy Lift | １時間あたり | 17,930円 | 川崎技術支援部 |
| K1960 | マルチ解析用FIB付属のSEM | １試料１視野観察につき | 20,130円 | 川崎技術支援部 |
| K1961 | マルチ解析用FIB付属のSEM 視野追加 | 同一試料において１視野追加観察につき | 4,510円 | 川崎技術支援部 |
| K1962 | マルチ解析用FIB付属のSEM 条件追加 | 同一試料において１条件追加につき | 4,510円 | 川崎技術支援部 |
| K1965 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 低真空 | 低真空モードの使用 | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
| K1970 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 | 点分析１視野１箇所につき | 16,610円 | 川崎技術支援部 |
| K1971 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 | 点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K1974 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 | 線分析１視野１箇所につき | 22,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1975 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 | 線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1976 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 | 面分析１視野につき | 33,440円 | 川崎技術支援部 |
| K1978 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 | 各種データ処理１条件につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K1980 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 結晶方位マップ | 結晶方位マップ１視野につき | 45,540円 | 川崎技術支援部 |
| K1981 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 視野追加 | 同一試料で１視野追加につき | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
| K1984 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 条件追加 | １条件追加につき | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
| K1985 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 各種データ処理 | 各種データ処理１条件につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K1990 | マルチ解析用FIB-SEMによる三次元再構築用連続断面画像の取得 | １測定につき | 110,770円 | 川崎技術支援部 |
| K1995 | マルチ解析用FIB-SEMによる三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 | １条件追加につき | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
| K1930 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 標準 | 標準的な作製（SEM観察含む）５本につき | 177,320円 | 川崎技術支援部 |
| K1932 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 複雑 | 複雑な作製（SEM観察含む） ５本につき | 266,200円 | 川崎技術支援部 |
| K1935 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 条件追加 | １条件追加につき | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
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⑧ 画像解析システム | 微細構造解析分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K1832 | 画像解析システム 三次元再構築 | １測定対象につき | 56,980円 | 川崎技術支援部 |
| K1834 | 画像解析システム 三次元データ処理 | １条件追加につき | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
| K1840 | 画像解析システム 画像解析 | １測定対象につき | 23,320円 | 川崎技術支援部 |
| K1842 | 画像解析システム データ処理 | １条件追加につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
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（３） 光機能分野
① 光触媒評価 光触媒JIS試験 | 光機能分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K3010 | 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 | １試料につき | 66,990円 | 川崎技術支援部 |
| K3015 | 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 －再生率－ | １試料につき | 21,120円 | 川崎技術支援部 |
| K3050 | 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 | １試料につき | 47,960円 | 川崎技術支援部 |
| K3055 | 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 －バッグ法 | １試料につき | 44,110円 | 川崎技術支援部 |
| K3060 | 光触媒のトルエン除去性能試験 | １試料につき | 44,440円 | 川崎技術支援部 |
| K3070 | 光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験 | １試料につき | 60,170円 | 川崎技術支援部 |
| K3020 | 光触媒のセルフクリーニング試験 湿式分解性能の測定 | １試料につき | 48,400円 | 川崎技術支援部 |
| K3030 | 光触媒のセルフクリーニング試験 水接触角の測定 | １試料につき | 67,320円 | 川崎技術支援部 |
| K3080 | 光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）（明条件のみ） | １試料につき | 84,370円 | 川崎技術支援部 |
| K3085 | 光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）（暗条件のみ） | １試料につき | 84,370円 | 川崎技術支援部 |
| K3105 | 光触媒性能試験JIS試験条件不成立時 （試験途中中止時） | １試料につき | 22,880円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
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② 光触媒評価 光触媒性能応用評価試験 | 光機能分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K3122 | その他光触媒性能試験 | １時間につき | 6,930円 | 川崎技術支援部 |
| K3090 | 空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験（JEM1467に準じた試験法） | １試験につき | 68,310円 | 川崎技術支援部 |
| K3042 | 水接触角の測定（光触媒JIS試験以外） | １試料１点につき | 4,950円 | 川崎技術支援部 |
| K3047 | 水接触角の測定（光触媒JIS試験以外）追加 | １点追加につき | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
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③ 太陽電池評価 | 光機能分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K3310 | 太陽電池のIPCE測定 | １試料につき | 39,930円 | 川崎技術支援部 |
| K3312 | 太陽電池のIPCE測定 追加 | １試料または１条件追加につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K3320 | 太陽電池のI-V測定 | １試料につき | 40,920円 | 川崎技術支援部 |
| K3322 | 太陽電池のI-V測定 追加 | １試料または１条件追加につき | 11,440円 | 川崎技術支援部 |
| K3330 | 太陽電池のI-V測定 LED特定波長 | １試料につき | 29,480円 | 川崎技術支援部 |
| K3332 | 太陽電池のI-V測定 LED特定波長 追加 | １試料または１条件追加につき | 8,800円 | 川崎技術支援部 |
| K3620 | 低照度環境下におけるI-V測定 | １条件につき | 5,500円 | 川崎技術支援部 |
| K3622 | 低照度環境下におけるI-V測定 追加 | １試料または１条件追加につき | 2,640円 | 川崎技術支援部 |
| K3350 | XeランプSSによる連続照射 | 24時間につき | 22,000円 | 川崎技術支援部 |
| K3352 | XeランプSSによる連続照射 追加 | 追加24時間につき | 19,470円 | 川崎技術支援部 |
| K3360 | LED-SSによる特定波長の光照射 | 24時間につき | 30,030円 | 川崎技術支援部 |
| K3362 | LED-SSによる特定波長の光照射 追加 | 追加24時間につき | 27,610円 | 川崎技術支援部 |
| K3610 | ２灯式SSによる連続照射 | 24時間につき | 49,720円 | 川崎技術支援部 |
| K3612 | ２灯式SSによる連続照射 追加 | 追加24時間につき | 48,070円 | 川崎技術支援部 |
| K3630 | 低照度光源による光照射 | １時間につき | 4,180円 | 川崎技術支援部 |
| K3632 | 低照度光源による光照射 24時間 | 24時間につき | 29,370円 | 川崎技術支援部 |
| K3640 | 無抵抗電流計による電流値測定 | １時間につき | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K3642 | 無抵抗電流計による電流値測定 24時間 | 24時間につき | 8,910円 | 川崎技術支援部 |
| K3650 | データロガーによる測定 | １時間につき | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K3652 | データロガーによる測定 24時間 | 24時間につき | 9,130円 | 川崎技術支援部 |
| K3655 | オシロスコープ | １時間につき | 2,090円 | 川崎技術支援部 |
| K3657 | オシロスコープ 24時間 | 24時間につき | 10,340円 | 川崎技術支援部 |
| K3390 | 連続光照射に伴う簡易なI-V測定 | １回につき | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
| K3395 | 太陽電池のインピーダンス測定 | １試料につき | 14,190円 | 川崎技術支援部 |
| K3420 | 発電面積規定用遮光マスク（面積測定済み） | １枚につき | 1,870円 | 川崎技術支援部 |
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④ 光学特性評価 | 光機能分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K3450 | 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 | １試料１条件につき | 6,270円 | 川崎技術支援部 |
| K3452 | 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 追加 | 追加１条件につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
| K3460 | 分光照度計による照度、演色性、色温度などの測定 | １試料１測定（５回測定）につき | 2,200円 | 川崎技術支援部 |
| K3470 | 分光放射照度計によるスペクトル測定 | １測定につき | 10,010円 | 川崎技術支援部 |
| K3670 | 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 | １測定につき | 4,730円 | 川崎技術支援部 |
| K3672 | 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 追加 | １測定追加につき | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
| K3680 | 色差計による色差の測定 | １測定につき | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
| K3690 | 赤外線サーモグラフィーによる温度測定 | １測定につき | 2,750円 | 川崎技術支援部 |
| K3660 | 光学測定に関わる作業 | １時間につき | 7,150円 | 川崎技術支援部 |
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⑤ 光劣化促進試験 | 光機能分野
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K3431 | 紫外線照射試験機（東洋精機製作所 Atlas UV test） | 24時間につき | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
| K3434 | 紫外線照射試験機（東洋精機製作所 Atlas UV test） 連続100時間 | 連続運転100時間につき | 22,000円 | 川崎技術支援部 |
| K3436 | 紫外線照射試験機 UV-B, C（東洋精機製作所 Atlas UV test） | 24時間につき | 7,040円 | 川崎技術支援部 |
| K3437 | 紫外線照射試験機 UV-B, C（東洋精機製作所 Atlas UV test） 連続100時間 | 連続運転100時間につき | 24,420円 | 川崎技術支援部 |
| K3440 | 小型Xe耐光試験機（東洋精機製作所 Atlas SUNTEST XLS+） | 24時間につき | 7,260円 | 川崎技術支援部 |
| K3442 | 小型Xe耐光試験機（東洋精機製作所 Atlas SUNTEST XLS+） 連続100時間 | 連続運転100時間につき | 25,190円 | 川崎技術支援部 |
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（４） 試料前処理
① 試料前処理 | 試料前処理
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K4120 | 試料前処理（切断、導電処理等） | 処理時間30分につき | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
| K4210 | 精密機械研磨法 A：容易な試料 | １試料につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K4212 | 精密機械研磨法 B：標準的な試料 | １試料につき | 22,550円 | 川崎技術支援部 |
| K4214 | 精密機械研磨法 C：複雑な試料 | １試料につき | 33,880円 | 川崎技術支援部 |
| K4216 | 精密機械研磨法 D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 44,990円 | 川崎技術支援部 |
| K4217 | 精密機械研磨法 条件追加 | １条件追加につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4220 | 試料の撮影 | １試料１視野につき | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
| K4230 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） A：容易な試料 | １試料につき | 22,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4232 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） B：標準的な試料 | １試料につき | 44,440円 | 川崎技術支援部 |
| K4234 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） C：複雑な試料 | １試料につき | 66,440円 | 川崎技術支援部 |
| K4236 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 88,550円 | 川崎技術支援部 |
| K4237 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） 条件追加 | １条件追加につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4238 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） クライオ | クライオの使用 １試料につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4240 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） A：容易な試料 | １試料につき | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4242 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） B：標準的な試料 | １試料につき | 22,440円 | 川崎技術支援部 |
| K4244 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） C：複雑な試料 | １試料につき | 33,440円 | 川崎技術支援部 |
| K4246 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 44,550円 | 川崎技術支援部 |
| K4247 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） 条件追加 | １条件追加につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4248 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） クライオ | クライオの使用 １試料につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4250 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） A：容易な試料 | １試料につき | 22,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4252 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） B：標準的な試料 | １試料につき | 44,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4254 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） C：複雑な試料 | １試料につき | 66,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4256 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 88,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4257 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） 条件追加 | １条件追加につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4258 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） クライオ | クライオの使用 １試料につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4260 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） A：容易な試料 | １試料につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K4262 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） B：標準的な試料 | １試料につき | 22,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4264 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） C：複雑な試料 | １試料につき | 33,330円 | 川崎技術支援部 |
| K4266 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 44,440円 | 川崎技術支援部 |
| K4267 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） 条件追加 | １条件追加につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4270 | イオンビームスパッタ | １試料につき | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K4280 | ウルトラミクロトーム法 A：容易な試料 | １試料につき | 22,220円 | 川崎技術支援部 |
| K4282 | ウルトラミクロトーム法 B：標準的な試料 | １試料につき | 44,770円 | 川崎技術支援部 |
| K4284 | ウルトラミクロトーム法 C：複雑な試料 | １試料につき | 67,320円 | 川崎技術支援部 |
| K4286 | ウルトラミクロトーム法 D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 89,760円 | 川崎技術支援部 |
| K4287 | ウルトラミクロトーム法 条件追加 | １条件追加につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K4288 | ウルトラミクロトーム法 クライオ | クライオの使用 １試料につき | 55,990円 | 川崎技術支援部 |
| K4310 | カーボンコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4320 | 金コーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4330 | 白金コーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4340 | パラジウムコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4350 | オスミウムコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4170 | 分散法 ふりかけ法 | １試料につき | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
| K4171 | 分散法 懸濁法 | １試料につき | 11,990円 | 川崎技術支援部 |
| K4175 | 電解研磨法 | １試料につき | 27,390円 | 川崎技術支援部 |
| K4176 | イオンミリング法 易 | １試料につき | 100,870円 | 川崎技術支援部 |
| K4177 | イオンミリング法 中 | １試料につき | 201,740円 | 川崎技術支援部 |
| K4178 | イオンミリング法 難 | １試料につき | 297,000円 | 川崎技術支援部 |
| K4180 | 低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル） | １試料１条件につき | 13,530円 | 川崎技術支援部 |
| K4185 | 樹脂包埋 | １試料につき | 13,420円 | 川崎技術支援部 |
| K4192 | 電子染色 | １試料につき | 27,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4195 | その他特殊処理 | １試料につき | 17,050円 | 川崎技術支援部 |
| K4196 | その他特殊処理 条件追加 | １条件追加につき | 17,050円 | 川崎技術支援部 |
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（５） 成績書の複本の交付
① 成績書の複本の交付 | 成績書の複本の交付
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K9030 | 成績書の複本・データ等の交付 | １通につき（写真を含む場合は別に加算することができる） | 297円 | 川崎技術支援部
E5350 |
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（６） 技術開発受託報告書の作成
① 技術開発受託報告書の作成 | 技術開発受託報告書の作成
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K9050 | 技術開発受託報告書の作成（データ処理） | 基本単位 （難易度により加算あり） | 2,970円 | 川崎技術支援部 |
| K9060 | 技術開発受託報告書の作成（考察） | 基本単位 （難易度により加算あり） | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
| K9070 | 技術開発受託報告書の複本 | １通につき（写真を含む場合は別に加算することができる） | 297円 | 川崎技術支援部 |
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溝の口支所の機器使用料金
（１） 生産・加工機器
① 微細加工機器 | 生産・加工機器
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K2425 | 低エネルギーイオン研磨装置 Model IV5（ジェントルミル） （１時間あたり） | リンダ社 Model IV5（ジェントルミル） | 11,000円 | 川崎技術支援部 |
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（２） 環境試験・電磁環境試験機器
① 温湿度環境試験 | 環境試験・電磁環境試験機器
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K6430 | 恒温槽（室温～300℃） PVH-110M （１時間あたり） | エスペック PVH-110M | 440円 | 川崎技術支援部 |
| K6420 | 恒温恒湿槽（小）（-40～150℃） ETAC TH411HA （１時間あたり） | 楠本化成 ETAC TH411HA | 660円 | 川崎技術支援部 |
| K6410 | 恒温恒湿槽（中）（-40～150℃） ETAC FX424P （１時間あたり） | 楠本化成 ETAC FX424P | 880円 | 川崎技術支援部 |
| K6460 | 恒温恒湿槽（-40～100℃） PL-3FPW （１時間あたり） | エスペック PL-3FPW | 880円 | 川崎技術支援部 |
| K6440 | プレッシャークッカー ETAC PM420 （１時間あたり） | 楠本化成 ETAC PM420 | 880円 | 川崎技術支援部 |
| K6450 | 冷熱衝撃試験機（小） ETAC TS100 （１時間あたり） | 楠本化成 ETAC TS100 | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
| K2815 | 冷熱衝撃試験機（小） ETAC NT1050W （１時間あたり） | 楠本化成 ETAC NT1050W | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
| K2820 | 超低温恒温恒湿槽（-70～150℃） PSL-2KPH （１時間あたり） | エスペック PSL-2KPH | 880円 | 川崎技術支援部 |
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② 電磁環境試験機器 | 環境試験・電磁環境試験機器
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K2310 | 電波暗室（測定帯域 30MHz～１GHz） TDK製（３m法） （１時間以内） | TDK製（３m法） | 8,140円 | 川崎技術支援部 |
| K2311 | 電波暗室（測定帯域 30MHz～１GHz） TDK製（３m法） （追加30分あたり） | TDK製（３m法） | 3,630円 | 川崎技術支援部 |
| K2315 | 電波暗室 （測定帯域 １GHz～18GHz） TDK製（３m法） （１時間以内） | TDK製（３m法） | 9,240円 | 川崎技術支援部 |
| K2316 | 電波暗室 （測定帯域 １GHz～18GHz） TDK製（３m法） （追加30分あたり） | TDK製（３m法） | 4,180円 | 川崎技術支援部 |
| K2430 | シールドルーム SH-H1313 （１時間以内） | ノイズ研究所製 SH-H1313 | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
| K2431 | シールドルーム SH-H1313 （追加30分あたり） | ノイズ研究所製 SH-H1313 | 1,100円 | 川崎技術支援部 |
| K2440 | シールドテント TM-2.5-1.7-2-2 （１時間以内） | 富山電気ビルディング製 TM-2.5-1.7-2-2 | 2,970円 | 川崎技術支援部 |
| K2441 | シールドテント TM-2.5-1.7-2-2 （追加30分あたり） | 富山電気ビルディング製 TM-2.5-1.7-2-2 | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
| K2450 | ＥＭＩ測定システムＡ（放射雑音測定） N9010A EXA （１時間以内） | キーサイトN9010A | 5,280円 | 川崎技術支援部 |
| K2451 | ＥＭＩ測定システムＡ（放射雑音測定） N9010A EXA （追加30分あたり） | キーサイトN9010A | 1,540円 | 川崎技術支援部 |
| K2460 | ＥＭＩ測定システムＡ（伝導性雑音測定） N9010A EXA （１時間以内） | キーサイトN9010A | 4,180円 | 川崎技術支援部 |
| K2461 | ＥＭＩ測定システムＡ（伝導性雑音測定） N9010A EXA （追加30分あたり） | キーサイトN9010A | 1,100円 | 川崎技術支援部 |
| K2350 | インピーダンス安定化回路網（ISN） ISN T8、ISN T8CAT6 （１時間以内） | TESEQ社 ISN T8,T8CAT6 | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
| K2351 | インピーダンス安定化回路網（ISN） ISN T8、ISN T8CAT6 （追加30分あたり） | TESEQ社 ISN T8,T8CAT6 | 220円 | 川崎技術支援部 |
| K2330 | 電源高調波電流測定器 PM3000ACE他 （１時間以内） | Voltec PM3000ACE他 | 2,970円 | 川崎技術支援部 |
| K2331 | 電源高調波電流測定器 PM3000ACE他 （追加30分あたり） | Voltec PM3000ACE他 | 880円 | 川崎技術支援部 |
| K2380 | パルスイミュニティ試験器 Compact NX5 （１時間以内） | EM Test NX5 | 2,970円 | 川崎技術支援部 |
| K2381 | パルスイミュニティ試験器 Compact NX5 （追加30分あたり） | EM Test NX5 | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K2360 | 静電気試験器 ESS-S3011＆GT-30R （１時間以内） | ノイズ研究所 ESS-S3011＆GT-30R | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
| K2361 | 静電気試験器 ESS-S3011＆GT-30R （追加30分あたり） | ノイズ研究所 ESS-S3011＆GT-30R | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
| K2776 | 伝導イミュニティ試験器 NSG2070 （１時間以内） | SCHAFFNER NSG2070 | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
| K2777 | 伝導イミュニティ試験器 NSG2070 （追加30分あたり） | SCHAFFNER NSG2070 | 1,540円 | 川崎技術支援部 |
| K2370 | ノイズシミュレータ INS-4040 （１時間以内） | ノイズ研究所 INS-4040 | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
| K2371 | ノイズシミュレータ INS-4040 （追加30分あたり） | ノイズ研究所 INS-4040 | 1,540円 | 川崎技術支援部 |
| K2778 | 電磁波妨害源探査装置 EPS-M1 （１時間以内） | ノイズ研究所 EPS-M1 | 2,640円 | 川崎技術支援部 |
| K2779 | 電磁波妨害源探査装置 EPS-M1 （追加30分あたり） | ノイズ研究所 EPS-M1 | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
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（３） 試験・計測機器
① 形状測定 | 試験・計測機器
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K6370 | 表面粗さ形状測定機 サーフコム 550A （１時間あたり） | 東京精密 サーフコム550A | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
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② 物理特性試験機 | 試験・計測機器
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K3560 | 赤外線サーモグラフィー（１時間あたり） | 日本アビオニクス TVS-200EX | 4,400円 | 川崎技術支援部 |
| K3542 | 接触角計 DMｓ－401 （１時間あたり） | 協和界面科学 DMｓ－401 | 3,300円 | 川崎技術支援部 |
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③ 電気計測機器 | 試験・計測機器
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K6510 | オシロスコープ WaveRunner62Xi （１時間あたり） | レクロイ WaveRunner62Xi | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K6515 | ACミリオームハイテスター 3560 （１時間あたり） | 日置電機3560 | 660円 | 川崎技術支援部 |
| K6517 | 超絶縁計 SM-8220 （１時間あたり） | 日置電機SM-8220 | 220円 | 川崎技術支援部 |
| K6518 | 交流耐電圧試験器 3158 （１時間あたり） | 日置電機3158 | 220円 | 川崎技術支援部 |
| K6520 | 漏れ電流試験器 （１時間あたり） | 日置電機 ST5540 | 1,100円 | 川崎技術支援部 |
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（４） 分析・評価機器（観察）
① マイクロスコープ | 分析・評価機器（観察）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K2915 | デジタルマイクロスコープ VHX-600 （30分あたり） | キーエンス VHX-600 | 1,540円 | 川崎技術支援部 |
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② 光学顕微鏡 | 分析・評価機器（観察）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K6110 | 金属顕微鏡 BX-51 （１時間あたり） | オリンパス光学工業 BX-51 | 1,540円 | 川崎技術支援部 |
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③ 電子顕微鏡 | 分析・評価機器（観察）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K2015 | FE-SEM/EDS S-4800 （１時間あたり） | 日立ハイテクノロジーズ S-4800 | 38,830円 | 川崎技術支援部 |
| K2642 | 集束イオンビーム装置 XVision200TB （１時間あたり） | SII社 XVision200TB | 53,350円 | 川崎技術支援部 |
| K2660 | TEM用グリッド （１個あたり） | － | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
| K2681 | マルチ解析用集束イオンビーム装置 Scios （１時間あたり） | FEI社 Scios | 51,810円 | 川崎技術支援部 |
| K2690 | TEM用グリッド （１個あたり） Scios使用 | － | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
| K2610 | マニピュレーター SISA-30TI-2 （30分あたり） | ナリシゲ SISA-30TI-2 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
| K2635 | レーザーマーカ LR2100ST（30分あたり） | HOYA LR2100ST | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
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④ 内部観察機器 | 分析・評価機器（観察）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K2720 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 MXT-160UU （30分以内） | メディエックステック MXT-160UU | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
| K2725 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 MXT-160UU （追加15分あたり） | メディエックステック MXT-160UU | 1,540円 | 川崎技術支援部 |
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（５） 分析・評価機器（組成分析）
① 元素分析 | 分析・評価機器（組成分析）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K2210 | 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF） SEA6000VX HSFinder （１時間あたり） | SII社 SEA6000VX HSFinder | 5,500円 | 川崎技術支援部 |
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② 組成分析 | 分析・評価機器（組成分析）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K6050 | フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）FT/IR-6300FV・IRT-7000（１時間あたり） | 日本分光 FT/IR-6300FV・IRT-7000 | 8,800円 | 川崎技術支援部 |
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（６） 分析・評価機器（物性〔光、熱、音振、エネルギー〕）
① 光学機器・分光分析 | 分析・評価機器（物性〔光、熱、音振、エネルギー〕）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|
| K3550 | 紫外・可視分光光度計 UH4150（１時間以内） | 日立ハイテクサイエンス UH4150 | 8,030円 | 川崎技術支援部 |
| K3552 | 紫外・可視分光光度計 UH4150（追加30分あたり） | 日立ハイテクサイエンス UH4150 | 2,640円 | 川崎技術支援部 |
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（７） 機器操作指導料
① 機器操作指導料 | 機器操作指導料
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
| K7030 | 機器操作指導料 （開放利用時に適用） 15分あたり | 立会人１人、15分あたり | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
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