材料解析分野：試験計測（溝の口） KISTEC 溝の口支所（川崎技術支援部）で行っている「材料解析分野」の試験をご紹介します。詳細は、各ページの相談フォームよりお問合せください。 機器分析 走査型X線光電子分光分析装置（μ-XPS・μ-ESCA）機器分析 フーリエ変換赤外分光光度計 （FT-IR）機器分析 微小蛍光Ｘ線分析装置（XRF）機器分析 金属顕微鏡機器分析 デジタルマイクロスコープ機器分析 マイクロフォーカスX線検査装置（μF-X線）機器分析 硬さ試験機温湿度環境試験電気計測試験機器分析 走査型X線光電子分光分析装置（μ-XPS・μ-ESCA）Ｘ線光電子分光分析（XPS） 表面分析（ワイドスキャンのみ）Ｘ線光電子分光分析（XPS） 深さ方向分析Ｘ線光電子分光分析（XPS） 表面分析（ワイドおよびナロースキャン）page top機器分析 フーリエ変換赤外分光光度計 （FT-IR）フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）page top機器分析 微小蛍光Ｘ線分析装置（XRF）微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析page top機器分析 金属顕微鏡金属組織写真撮影外観写真撮影顕微鏡試料調製page top機器分析 デジタルマイクロスコープデジタルマイクロスコープpage top機器分析 マイクロフォーカスX線検査装置（μF-X線）マイクロフォーカスＸ線検査装置page top機器分析 硬さ試験機硬さ試験硬さ試験試料調整page top温湿度環境試験恒温恒湿槽（中）恒温恒湿槽（小）恒温槽プレッシャークッカー試験冷熱衝撃試験 （小）page top電気計測試験絶縁抵抗測定（平板試料）page top