微細構造解析分野:試験計測(溝の口)

KISTEC 溝の口支所(川崎技術支援部)で行っている「微細構造解析分野」の試験をご紹介します。詳細は、各ページの相談フォームよりお問合せください。

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)

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高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)

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電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)

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分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)

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TEM試料調製

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集束イオンビーム装置(FIB)

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マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB)

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画像解析システム

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