走査電子顕微鏡写真撮影

材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察

【試験対象】
 各種材料および機械部品

【関連キーワード】
 走査電子顕微鏡写真撮影(SEM:Scanning Electron Microscope)

料金について

令和6年4月1日に試験計測等料金が改訂されました。新料金表示の対応が完了するまではPDFファイル(試験計測等料金表(1MB))をご確認ください。
料金表番号試験名単位料金
E0011走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下1試料1視野観察につき20,350円
E0012走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加1視野追加観察につき4,510円
E0013走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下1試料1視野観察につき29,260円
E0014走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加1視野追加観察につき8,910円
E0015走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの1試料1視野観察につき52,030円
E0016走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1視野追加1視野追加観察につき14,630円
E0017走査電子顕微鏡写真撮影 10~15視野 113,080円
E0018走査電子顕微鏡写真撮影 16~30視野 169,620円
E0021エネルギー分散型X線分析(EDX)(E0011~E0018、E1790に適用)1ヶ所につき7,040円

※倍率及び撮影の追加等により、料金が加算されます。

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

機械・材料技術部 ナノ材料グループ
*同様の試験を溝の口支所でも行っております(料金番号:K1310)。

分類

海老名本部 試験計測 | 材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析  | 観察
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当:機械・材料技術部 ナノ材料グループ