走査型プローブ顕微鏡観察

走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。

【試験対象】
 電子材料

料金について

料金表番号試験名単位料金
E1780走査型プローブ顕微鏡観察標準1条件1測定につき23,100円
E1781走査型プローブ顕微鏡観察 1視野追加1視野追加につき 10,780円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

電子技術部 電子材料グループ

分類

海老名本部 試験計測 | 機械機器、電気・電子部品等の性能の評価 | 観察
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