走査型プローブ顕微鏡観察
走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。
【試験対象】
電子材料
【試験対象】
電子材料
料金について
料金表番号 | 試験名 | 単位 | 料金 |
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E1780 | 走査型プローブ顕微鏡観察 | 標準1条件1測定につき | 23,100円 |
E1781 | 走査型プローブ顕微鏡観察 1視野追加 | 1視野追加につき | 10,780円 |
使用する機器について
この試験に使用する機器は以下の通りです。
担当部署
電子技術部 電子材料グループ分類
海老名本部 試験計測 | 機械機器、電気・電子部品等の性能の評価 | 観察- この試験に関連するお問い合わせ
- 担当:電子技術部 電子材料グループ