X線光電子分光分析

固体表面にX線を照射して光電効果により放出される光電子の運動エネルギー(EK)と強度を測定する手法である。測定したEKから、各軌道における電子の結合エネルギー(EB)を算出することにより、元素分析が可能である。また、注目原子に結合する原子の種類や結合状態によって、EBはわずかに変化する。この変化を測定することにより化学状態分析もできる。なお、XPSの測定深さは数nm程度である。

表面分析、表面局所分析

料金について

料金表番号試験名単位料金
E1882X線光電子分光分析(簡単なもの)1試料1ヶ所につき18,150円
E1884X線光電子分光分析(簡単なもの) 条件増1条件増すごとに8,250円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

機械・材料技術部 解析評価グループ

分類

海老名本部 試験計測 | 材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析  | 固体・表面分析
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