X線回折試験

X線回折法による試料の結晶構造解析、スペクトル検索同定が可能です。薄膜X線装置では逆格子マッピングや薄膜法、反射率測定が可能です。

【試験対象】
 粉末又は薄膜試料、無機材料・化合物、有機材料、複合素材

試料形態等により分析装置を選択します。

【関連するキーワード】
 XRD,結晶構造解析

料金について

令和6年4月1日に試験計測等料金が改訂されました。新料金表示の対応が完了するまではPDFファイル(試験計測等料金表(1MB))をご確認ください。
料金表番号試験名単位料金
E2510X線回折試験(Ⅰ)粉末X線回折1試料につき24,090円
E2520X線回折試験(Ⅱ)高度な粉末X回折・薄膜X線回折1試料につき 36,630円
E2530X線回折試験(Ⅲ)高度な薄膜X線回折1試料につき56,650円

担当部署

電子技術部 電子材料グループ
化学技術部

分類

海老名本部 試験計測 | 材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析  | X線構造解析
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当:電子技術部 電子材料グループ