電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)

細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不具合箇所における介在物・析出物・異物等の構成元素を分析します。

【試験対象】
 金属、セラミックス、樹脂等

【関連するキーワード】
 FE-EPMA, Field Emission Electron Probe Micro Analyzer , 電界放出型電子線マイクロアナライザ、表面局所分析

料金について

料金表番号試験名単位料金
E2570電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)1ヶ所につき29,370円
E2581エネルギー分散型X線分析(EDX)(FE-EPMAによる)1ヶ所につき(E2570,E2580に適用)7,150円
E2582表面観察(FE-EPMAによる)1ヶ所増同一試料で1ヶ所増すごとに(E2570,E2580に適用)4,400円
E2590電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)追加分析1ヶ所につき(E2570,E2580に適用)9,130円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

機械・材料技術部 解析評価グループ

分類

海老名本部 試験計測 | 材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析  | 固体・表面分析
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