電子線マイクロアナライザ観測（ＦＥ－ＥＰＭＡ）

細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不具合箇所における介在物・析出物・異物等の構成元素を分析します。

【試験対象】
　金属、セラミックス、樹脂等

【関連するキーワード】
　FE-EPMA, Field Emission Electron Probe Micro Analyzer , 電界放出型電子線マイクロアナライザ、表面局所分析

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
E2570	電子線マイクロアナライザ観測（ＦＥ－ＥＰＭＡ）	１ヶ所につき	29,370円
E2581	エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（ＦＥ－ＥＰＭＡによる）	１ヶ所につき（E2570,E2580に適用）	7,260円
E2582	表面観察（ＦＥ－ＥＰＭＡによる）１ヶ所増	同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570,E2580に適用）	4,510円
E2590	電子線マイクロアナライザ観測（ＦＥ－ＥＰＭＡ）追加分析	１ヶ所につき（E2570,E2580に適用）	9,130円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

機械・材料技術部　解析評価グループ

分類

海老名本部　試験計測　|　材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析　　|　固体・表面分析