微小部蛍光X線分析(XRF)

蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量(半定量)を得ることができる装置です。

分析領域:200μm,500μm,1.2mm,3mm/分析元素:Mg~U (Heパージ使用時 Na~U)

料金について

料金表番号試験名単位料金
K1210微小部蛍光X線分析(XRF)1試料1条件につき8,030円
K1211微小部蛍光X線分析(XRF) 条件追加1条件追加につき3,410円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

川崎技術支援部 材料解析グループ

分類

溝の口支所 試験計測 | 材料解析分野 | 機器分析 微小蛍光X線分析装置(XRF)
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当:川崎技術支援部 材料解析グループ