微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析

蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量(半定量)を得ることができる装置です。

マッピング面積:250×200mm

料金について

料金表番号試験名単位料金
K1212微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析面分析1条件につき(5元素まで)13,750円
K1213微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析 条件追加面分析1条件追加につき2,310円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

川崎技術支援部 材料解析グループ

分類

溝の口支所 試験計測 | 材料解析分野 | 機器分析 微小蛍光X線分析装置(XRF)
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  • 担当:川崎技術支援部 材料解析グループ
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