分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)

分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)は、多次元に渡る高速組成分析に特化した走査・透過型電子顕微鏡(S/TEM)システムです。最先端のEDS と高いSTEM、TEM 分解能を備えており、ナノ領域での様々な研究・解析に最適です。

■用途
・マクロからナノレベルの観察、元素分析
・電子線回折を用いた結晶情報取得
・電子線耐性が低いソフトマテリアルへの対応
・トモグラフィーシステムを用いた観察画像、元素マッピング画像の三次元化

・加速電圧:200kV(標準)、120kV、80kV
・分解能:TEM 0.12nm(200kV)、STEM 0.16nm(200kV)
・プローブ電流:1.5nm@1nm
・TEMボトムマウントカメラ:4,096×4,096 CMOS
・STEM検出器:BF,DF,HAADF(同時取得可)
・EDS検出器:X型配置4SDD
・分析対象元素:B~U

料金について

料金表番号試験名単位料金
K1740分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 10万倍以下観察倍率10万倍以下 1視野につき18,590円
K1741分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 10万倍以下 1視野追加観察倍率10万倍以下 同条件1視野追加につき9,350円
K1745分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 10万倍を超えて50万倍以下観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき24,200円
K1746分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 10万倍を超えて50万倍以下 1視野追加観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 同条件1視野追加につき13,970円
K1750分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 50万倍を超えて200万倍以下観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 1視野につき33,330円
K1751分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 50万倍を超えて200万倍以下 1視野追加観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 同条件1視野追加につき18,480円
K1755分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 200万倍を超えるもの観察倍率200万倍を超えるもの 1視野につき48,180円
K1756分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 200万倍を超えるもの 1視野追加観察倍率200万倍を超えるもの 同条件1視野追加につき29,040円
K1760分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 試料傾斜調整試料傾斜調整 1条件につき 12,430円
K1761分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察  制限視野回折制限視野回折 1視野につき16,060円
K1768分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察  条件追加1条件追加につき 11,110円
K1770FE-TEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS)面分析面分析 1視野5元素ごとに、または2時間につき103,400円

※観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

川崎技術支援部 微細構造解析グループ

分類

溝の口支所 試験計測 | 微細構造解析分野 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
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