新規導入機器・設備紹介 KISTECに過去３年以内に新規導入された試験計測機器・研究設備（機器・設備）をご紹介します。 各機器・設備の画像、名称をクリックすると、詳細（機器の仕様や用途、ご利用方法、関連する試験料金等）をご確認いただけます。 各機器、関連する試験等のお問合わせは、各機器のページ最下部のお問合せフォームをご利用ください。 機械・材料技術部 電子技術部 情報・生産技術部 化学技術部 川崎技術支援部 機械・材料技術部デジタルマイクロスコープ令和3年度紫外・可視・近赤外分光光度計令和3年度電子線マイクロアナライザ（ＦＥ−ＥＰＭＡ）令和3年度比表面積・細孔分布測定装置令和元年度page top電子技術部マイクロ波ネットワークアナライザ測定装置令和3年度半導体デバイスアナライザ令和2年度放射・伝導電磁界イミュニティ測定システム令和2年度パワー半導体特性評価装置（半導体カーブトレーサ）令和2年度page top情報・生産技術部金属成形加工用シミュレーションシステム令和3年度表面粗さ･輪郭形状測定機令和3年度NCフライス盤令和元年度超軟性造形対応光造形3Dプリンター令和元年度三次元測定システム（接触式）平成6年度page top化学技術部材料試験機（50kN）令和3年度熱分析システム令和3年度熱機械分析装置令和3年度動的粘弾性測定装置DMA令和3年度化学反応評価装置令和2年度ICP発光分光分析装置（シーケンシャル型）令和元年度page top川崎技術支援部光音響マルチガス分析器令和3年度分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）令和2年度NO Image紫外領域対応分光放射照度計平成30年度page top
