新規導入機器・設備紹介
KISTECに過去3年以内に新規導入された試験計測機器・研究設備(機器・設備)をご紹介します。
各機器・設備の画像、名称をクリックすると、詳細(機器の仕様や用途、ご利用方法、関連する試験料金等)をご確認いただけます。
各機器、関連する試験等のお問合わせは、各機器のページ最下部のお問合せフォームをご利用ください。
機械・材料技術部
- レーザ回折・散乱式粒径分布測定装置
令和4年度
- 吸音率測定システム
令和4年度
- 微小領域機械特性評価装置
令和3年度
- デジタルマイクロスコープ
令和3年度
- 紫外・可視・近赤外分光光度計
令和3年度
- 電子線マイクロアナライザ(FE−EPMA)
令和3年度
電子技術部
- 冷熱衝撃試験機(TSA-73EH-W)
令和4年度
- マイクロ波ネットワークアナライザ測定装置
令和3年度
- 放射・伝導電磁界イミュニティ測定システム
令和2年度
- パワー半導体特性評価装置(半導体カーブトレーサ)
令和2年度