機械機器、電気・電子部品等の性能の評価：試験計測（海老名）
電気・機械機器
- 電流電圧測定（１ｍＡ以上，１ｍＶ以上）
- 電気抵抗測定
- 四探針法による抵抗率測定
- 電気機器・漏れ電流測定
- 電気機器・耐電圧試験
- 電気機器・接地回路の抵抗測定
- ＬＣＲ測定
- 絶縁抵抗試験
- 電気機器・温度試験
- 電源変動および瞬停試験
- 電気機器・電力測定
- イーサネットコンプライアンステスト
- 磁化特性測定（ＶＳＭ方式）
- 磁化特性測定（積分方式）
- 磁歪測定
- 磁化温度特性測定
- 薄膜交流透磁率測定
- 交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、 インダクタンス）
- 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、 可変条件は１）
- 試料調整
- データ処理
- 適合性試験（FL-net）
- 相互接続性試験（FL-net）
- ノイズ試験（CC-Link）
- ハードウェア試験（CC-Link）
- ソフトウェア試験（CC-Link）
- 組み合わせ試験（CC-Link）
- インタオぺラビリティ試験（CC-Link）
- エージング試験（CC-Link）
- 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、 可変条件は１）
デバイス・実装
- ワイヤーボンディング強度試験
- ダイシェア試験
- 熱抵抗測定
- パワー半導体静特性試験
- 薄膜屈折率測定
- 定エネルギー分光測定
- 膜厚測定
- フォトルミネッセンス測定
- 高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定
- 低温光特性評価
- 位相差測定
- 酸化拡散試験
- 光干渉式膜厚測定
- ホール効果測定
- 超音波ウェッジボンダ試験
- 超音波ボールボンダ試験
- ダイシング加工（半導体基板精密加工）
- 真空蒸着
- スパッタ成膜
- イオンプレーティング成膜
- アッシャーによるプラズマ処理
- ＥＣＲプラズマエッチング
- 高精度フォトリソグラフィ
- 電子線リソグラフィ
- クリーン雰囲気試験
電磁環境・EMC
- 半導体パラメータ測定
- マイクロ波スペクトラムアナライザ測定
- ネットワークアナライザ測定（マルチポート）
- ネットワークアナライザ測定（４ポートまで）
- マイクロ・ミリ波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定）
- マイクロ・ミリ波伝送特性測定（プローバー測定）
- マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）
- マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）
- マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法）
- マイクロ波誘電率測定（ＢＣＤＲ法）
- 放射妨害波測定
- 車載機器の放射・伝導妨害波測定
- 電源・通信ポート伝導妨害波測定
- 雑音電力測定
- 放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- 静電気放電イミュニティ試験
- 電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験
- 雷サージイミュニティ試験
- 誘導伝導電磁界イミュニティ試験
- インパルスノイズ試験
- 電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、 KEC法)
- マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz～ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞)
- 電波透過特性測定（マイクロ波帯）
- 電波吸収率測定（簡易アンテナ法）
- アンテナ指向性測定
- 三次元アンテナ指向性測定
温湿度・環境
- 恒温恒湿槽（中）
- 恒温恒湿槽（中）サイクル
- 高温槽
- プレッシャークッカー試験
- 冷熱衝撃試験（中）
- ハイパワー恒温恒湿槽 （ARSF）
- 冷熱衝撃試験（中・TSA）
- HAST試験
- 恒温恒湿槽（大、１５０℃対応）
- 恒温恒湿槽 （低湿度対応）
- 冷熱衝撃試験（大）
- パワーサイクル試験
- 小型恒温恒湿槽（SH）
- 小型恒温槽 （温度のみ）
- 人工気象室（小型）
- 人工気象室（大型）
音響・振動
- 時間波形分析（振動）
- 周波数分析（振動）
- 振動試験
- 損失係数測定
- 振動試験（大型の試験機によるもの）
- 騒音測定
- オクターブ分析
- 時間波形分析（音）
- 周波数分析（音）
- 音響パワーレベル測定
- 音圧分布測定
- 音質評価解析
- 吸音率測定
デザイン・造形
- 立形マシニングセンタによる加工
- ５軸制御マシニングセンタによる加工
- 機械設計・解析
- 三次元造形（小型インクジェット式３Ｄプリンター）
- 構造解析
- 三次元造形（インクジェット式３Dプリンター）
- 三次元造形（光造形式３Dプリンター）
- 弾塑性解析（塑性加工のシミュレーション解析）
- デザイン・企画