川崎技術支援部(機器・設備)
KISTECが保有している試験計測機器・研究設備(川崎技術支援部所管)を紹介します。
これらの機器・設備はKISTECの専門職員が行う各種試験や研究に使用されるほか、お客様ご自身が来所のうえ、ご利用いただけるものもございます。
お客様自身でご利用可能な機器・設備は、各機器の詳細ページ、又は機器使用よりご確認いただけます。
生産・加工機器
page top環境試験・電磁環境試験機器
- インピーダンス安定化回路網(ISN)
- 電源高調波電流測定器
- 静電気試験器
- 伝導イミュニティ試験器
- シールドテント
- ノイズ発生器
- 電磁波妨害源探査装置
- 小型電波暗室
- シールドルーム
- ノイズシミュレータ
- 冷熱衝撃試験機(NT1050W)
- 恒温槽(PVH-110M)
- 冷熱衝撃試験機(TS100W)
- 高度加速寿命試験装置
- 恒温恒湿槽(TH411HA)
- 恒温恒湿槽(PL-3FPW)
- 恒温恒湿槽(FX424P)
- パルスイミュニティ試験器
- 超低温恒温恒湿槽
- 小型キセノン耐候試験機
- 紫外線蛍光ランプ式耐候性試験機
試料調製用機器
page top試験・計測機器
page top分析・評価機器(観察)
- マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS/EBSD)
- 金属顕微鏡・光学顕微鏡
- 電界放出型透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
- 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)
- 高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)
- 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)
- マクロ撮影イメージングシステム
- デジタルマイクロスコープ
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
分析・評価機器(組成分析)
- マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS/EBSD)
- 光音響マルチガス分析器
- 微小部蛍光X線分析装置(XRF)
- フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)
- 走査型X線光電子分光分析装置(µ-XPS・µ-ESCA)
- 電界放出型透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
- 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)
- 高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
分析・評価機器(物性(光、熱、音振、エネルギー))
- 紫外領域対応分光放射照度計
- 小型ソーラーシミュレータ
- 恒温槽付き1灯式ソーラーシミュレータ
- 恒温槽付き2灯式ソーラーシミュレータ
- 分光感度測定装置
- LED式可視光ソーラーシミュレーター
- 低照度光源
- 分光放射照度計
- 高性能分光放射照度計
- 照度分布評価装置
- 紫外・可視分光光度計